带有X射线电脑断层扫描的Werth多传感器坐标测量机
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设备的规格● 微聚焦x射线源可达225千伏● 测量范围 ?= 109毫米(4)(图片) ?= 172毫米(6.8 ")(使用光栅断层扫描) L=124毫米(5英寸)(如图) L=357毫米(14 ")(使用光栅断层扫描) 其他规格● 深度:1260(50 ")宽度:2400毫米(95 ")高度:1900mm (75 ") |
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